TOF SIMS analysis, structure and photoluminescence properties of pulsed laser deposited CaS:Eu2+ thin films pdf

تفاصيل الدراسة

TOF SIMS analysis, structure and photoluminescence properties of pulsed laser deposited CaS:Eu2+ thin films pdf

TOF SIMS analysis, structure and photoluminescence properties of pulsed laser deposited CaS:Eu2+ thin films pdf

توثيق المرجعي (APA)

خصائص الدراسة

  • المؤلف

    Nyenge, R. L.

    Shaat, Samy K.

    Noto, L.L.

    Mokoena, P. P.

    Swart, Hendrik C

    Ntwaeaborwa, Odireleng M.

  • سنة النشر

    2015-11

  • الناشر:

    Elsevier BV

  • المصدر:

    المستودع الرقمي للجامعة الإسلامية بغزة

  • نوع المحتوى:

    Journal Article

  • اللغة:

    English

  • محكمة:

    نعم

  • الدولة:

    فلسطين

  • النص:

    دراسة كاملة

  • نوع الملف:

    pdf

0المراجعات

أترك تقييمك

درجة تقييم